Anbieter von In-Circuit-Testern für FPGA ISP-basierte Geräte

In-Circuit-Tester werden häufig für Fertigungstests und zur Messung von Leiterplattensystemen verwendet. In-Circuit-Tester können auch programmierbare Logikbausteine (PLDs) programmieren und verifizieren, die systeminterne Programmierbarkeit (ISP) unterstützen. Durch die Verwendung von In-Circuit-Testern zur Programmierung ISP-fähiger Geräte kann die Geräteprogrammierung in den Standardfertigungsablauf integriert werden, wodurch die Markteinführungszeit verkürzt wird. Verschiedene In-Circuit-Tester-Hersteller waren an der Entwicklung des IEEE 1532-Standards beteiligt, der von Agilent und Teradyne unterstützt wird.

Beschreibung des Verkäufers
Agilent Technologien

Agilent, der weltweit führende Anbieter von Test- und Messprodukten und -dienstleistungen, bietet die Agilent 3070-Serie von Board-Testsystemen für die Leiterplattenprüfung an. Die Board-Testsysteme der Agilent 3070-Serie zeichnen sich durch mehrere Innovationen aus, die die Testkosten senken und die Testeffektivität erhöhen.

Ganz gleich, ob Sie einen antriebslosen Prozesstest, einen traditionellen In-Circuit-Test, einen leistungsstarken Kombinationstest oder die systeminterne Programmierung von programmierbaren Logikbausteinen (PLDs) auf Leiterplatten benötigen, die Produktreihe 3070 bietet erschwingliche Einstiegspunkte für eine Vielzahl von Systemen. Die Board-Testsysteme der Serie 3070 sind so konzipiert, dass die Testkosten mit hochwertigen Tests mit hoher Fehlerabdeckung, schnellem Testdurchsatz, zuverlässiger Systemhardware und umfassender Programmierung niedrig gehalten werden.

Intel® FPGA hat fortschrittliche Software zur Unterstützung von Agilent Automated Test Equipment (ATE)-Produkten entwickelt. Ein Software-Tool, das SVF2PCF, wird von Agilent vollständig unterstützt, wenn es in Verbindung mit der Quartus® II-Software von Intel FPGA verwendet wird. Die SVF2PCF-Software generiert eine Agilent Pattern Capture Format-Datei (.pcf) aus einer Serial Vector Format-Datei (.svf) und ermöglicht die schnelle Programmierung aller Intel FPGA systeminternen Programmiergeräte (ISP)-fähigen Geräten auf allen Agilent ATE-Produkten. Sie können die Version 2.6 der SVF2PCF-Software im .zip-Format von der Intel FPGA-Website herunterladen.

Hinweis: Das Dienstprogramm SVF2PCF unterstützt die Konvertierung von Dateien im seriellen Vektorformat (.svf) von FPGA Geräten nicht.

Das PLD ISP-Softwareprodukt von Agilent unterstützt direkt Jam Standard Test and Programming Language (STAPL)-Dateien (.jam), Jam Byte-Code-Dateien (.jbc) und serielle Vektorformatdateien (.svf). Für weitere Informationen zum PLD ISP-Produkt wenden Sie sich bitte direkt an Agilent unter www.agilent.com.
Teradyne Inc.

Teradyne ist der weltweit größte Anbieter von In-Circuit-Testern für die Elektronik- und Telekommunikationsindustrie. Die Produkte von Teradyne werden zum Testen von Halbleitern, Schaltungsbaugruppen, Telefonleitungen, Netzwerken, computergesteuerten Telefonsystemen und Software verwendet. Das Unternehmen stellt auch Backplane-Baugruppen und Steckverbinder mit hoher Dichte her, die in leistungsstarken elektronischen Systemen verwendet werden.

Besuchen Sie die Teradyne-Website , um weitere Informationen zu den ATE-Produkten (Automated Test Equipment) von Teradyne zu erhalten.

Intel® FPGA systeminternen programmierbaren Geräte können schnell mit Teradyne In-Circuit-Testern programmiert werden, indem eine JamTM-Datei (.jam) oder eine serielle Vektordatei (.svf) verwendet wird, die automatisch von der Quartus® II- oder MAX+PLUS® II-Software generiert werden kann.
Alles anzeigen Weniger anzeigen

Der Inhalt dieser Seite ist eine Kombination aus menschlicher und computerbasierter Übersetzung des originalen, englischsprachigen Inhalts. Dieser Inhalt wird zum besseren Verständnis und nur zur allgemeinen Information bereitgestellt und sollte nicht als vollständig oder fehlerfrei betrachtet werden. Sollte eine Diskrepanz zwischen der englischsprachigen Version dieser Seite und der Übersetzung auftreten, gilt die englische Version. Englische Version dieser Seite anzeigen.