Artikel-ID: 000085149 Inhaltstyp: Fehlerbehebung Letzte Überprüfung: 11.09.2012

Testt Altera Konfigurationsgeräte auf Single Event Upsets (SEU)?

Umgebung

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
Beschreibung

Nein, Altera teste die Konfigurationsgeräte nicht auf SEU.

Konfigurationsgeräte sind Flash-Geräte und mit Neutronen und Alphapartikeln verbunden.  Es kann eine SEU-Empfindlichkeit in den Logikregistern geben, und aufgrund der sehr geringen Fehlerrate werden die Geräte nicht getestet.

Veröffentlichte Literatur und Konferenzverfahren nach Industriestandard zeigen, dass die Failure-in-Time-Rate (FIT-Rate) für solche Flash-Speichergeräte sehr klein ist.

Zugehörige Produkte

Dieser Artikel bezieht sich auf 2 Produkte

Konfigurationskomponenten für Intel® FPGAs
Intel® programmierbare Geräte

Der Inhalt dieser Seite ist eine Kombination aus menschlicher und computerbasierter Übersetzung des originalen, englischsprachigen Inhalts. Dieser Inhalt wird zum besseren Verständnis und nur zur allgemeinen Information bereitgestellt und sollte nicht als vollständig oder fehlerfrei betrachtet werden. Sollte eine Diskrepanz zwischen der englischsprachigen Version dieser Seite und der Übersetzung auftreten, gilt die englische Version. Englische Version dieser Seite anzeigen.