Artikel-ID: 000083524 Inhaltstyp: Produktinformationen und Dokumente Letzte Überprüfung: 11.09.2012

Wie wird die Testbarkeit auf HardCopy-Geräten® behoben?

Umgebung

BUILT IN - ARTICLE INTRO SECOND COMPONENT
Beschreibung HardCopy-Basis-Arrays sind mit Testbarkeitsschaltkreisen eingebettet. Speicher-Boundary-Insertion-Scan-Tests (BISTs) für Speicher und Phasensperrkreise (PLLs) und Boundary-Scan-Logik für das Design sind bei beliebigen HardCopy-Geräten Standard. Die HardCopy-Geräte von Altera erfordern keine funktionalen Vektoren von Kunden. Mithilfe von ATPG-Vektoren (Automatic Test Pattern Generation) werden HardCopy-Geräte auf dem Strukturdesign getestet, was eine sehr hohe Fehlerabdeckung von ca. 99 Prozent zur Folge hat.

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