Intel® In-Field-Scan für Intel® Xeon® Prozessoren der 5. Generation verbessert das Serverflottenmanagement
Inhaltstyp: Installation und Setup | Artikel-ID: 000099537 | Letzte Überprüfung: 31.01.2025
Mit den skalierbaren Intel® Xeon®-Prozessoren der 5. Generation (früherer Codename Emerald Rapids) wurde eine neue RAS-Funktion (Zuverlässigkeit, Verfügbarkeit und Wartungsfreundlichkeit) namens Intel® In-Field Scan eingeführt. Diese Tool-Familie wurde entwickelt, um Systemadministratoren dabei zu helfen, Prozessoren, die im Laufe der Zeit ausgefallen sind, schnell und einfach zu finden. Intel® In-Field Scan verfügt über eine Roadmap von Funktionen, die in aktuellen und zukünftigen Prozessoren enthalten sein werden. Scan-at-Field (SAF) und Array Built-In Self Test (BIST) sind die ersten beiden Funktionen der In-Field-Scan-Produktreihe, die beide auf Intel® Xeon®Prozessoren der 5. Generation verfügbar sind.
Intel® In-Field-Scan ist minimal intrusiv und darauf ausgelegt, schnell einen Kern zu testen, während alle anderen Kerne im Knoten weiterhin Kunden-Workloads ausführen.
Scan* ist eine branchenübliche Methode zur Fehlererkennung in Halbleiterbauelementen. Bisher wurde der Scan von spezialisierten Testgeräten in Chipfabriken verwendet. Intel nutzt Scans, um Prozessoren während der High-Volume Manufacturing (HVM) zu testen.
Mit Scan-at-Field können Kunden eine Teilmenge der Scan-Tests von Intel durchführen, um einzelne Prozessorkerne auf Fehler zu überprüfen. Mithilfe von von Intel bereitgestellte Testmuster (sogenannte Scan-Test-Images) kann jeder Kern innerhalb des Prozessorpakets unabhängig getestet werden, um die ordnungsgemäße Funktion zu bestätigen.
Array BIST überprüft die L1- (Level 1) und L2- (Level 2) Caches sowie viele der Registerdateien und Datenarrays in jedem Kern. Da es sich um einen integrierten Selbsttest (BIST) handelt, müssen keine Testbilder geladen werden. Alle Tests werden von einem dedizierten Testmodul in jedem Kern koordiniert.
Einen allgemeinen technischen Überblick über SAF und ArrayBIST bietet das technische Papier "Finding Faulty Components in a Live Fleet Environment" (Fehlerhafte Komponenten in einer Live-Flottenumgebung finden). Einzelheiten zu den Systemanforderungen und der Durchführung von In-Field-Scans finden Sie im Aktivierungsleitfaden für Intel® In-Field-Scans für Intel® Xeon®Prozessoren der 5. Generation.
Intel® In-Field Scan ist ein wichtiger Schritt nach vorn im Bereich der Zuverlässigkeits- und Verfügbarkeitsdienste, da es Kunden ermöglicht, branchenspezifische Testfunktionen zu nutzen, um defekte Einheiten in ihrer Flotte schnell zu identifizieren.
Es gibt Hardware- und Software-Anforderungen, um Intel® In-Field-Scan auf einer Plattform zu ermöglichen. Nachfolgend finden Sie eine Zusammenfassung der Anforderungen.
Intel® In-Field Scan wurde so konzipiert und optimiert, dass es von Systemadministratoren verwendet werden kann, um die Flotte regelmäßig zu testen, um sicherzustellen, dass die Prozessoren korrekt funktionieren. Intel® In-Field-Scan bietet Systemadministratoren einen sehr schnellen Prozessortest, der auf aktiven Knoten (d. h. einem Knoten, der online ist und Benutzeranwendungen ausführt) ausgeführt werden kann, ohne den Betrieb des gesamten Knotens zu unterbrechen. In diesem Fall bedeutet der Begriff sehr schnell ~200ms oder weniger.
Es wird empfohlen, die Flotte regelmäßig zu testen, um Komponenten zu finden, die im Laufe der Zeit ausgefallen sind. Wie oft die Flotte getestet werden muss und wie umfangreich ein Test durchgeführt werden muss, ist eine komplexe Frage. Viele Variablen spielen eine Rolle, zum Beispiel: Wie lange läuft der Prozessor schon? Wie hoch ist die prognostizierte Failure in Time (FIT) 2-Rate des Prozessors? Wie hoch ist die Toleranz des Kunden für SDE (Silent Data Errors)? und die Zeit, die der Systemadministrator bereit ist, für die proaktive Systemwartung aufzuwenden.
Das technische Papier "Finding Faulty Components in a Live Fleet Environment" (Auffinden fehlerhafter Komponenten in einer Live-Flottenumgebung ) enthält Überlegungen und ein Beispiel dafür, wie oft ein In-Field-Scan durchgeführt werden kann.
Der Aktivierungsleitfaden für Intel® In-Field-Scans für Intel Xeon Prozessoren der 5. Generation enthält detaillierte Informationen zur Ausführung und zum Testen und zum Verständnis der Ergebnisse.
Die Intel® In-Field-Scan-Testbilder für Intel® Xeon® Prozessoren der 5. Generation und Anweisungen zum Überprüfen der Version oder Laden eines neuen Images werden veröffentlicht (NDA-Konto erforderlich – So beantragen Sie ein Intel® Ressourcen- und Dokumentationszentrum).
® Der Intel In-Field-Scan-Antrag wurde veröffentlicht (NDA-Konto erforderlich – So beantragen Sie ein Intel® Ressourcen- und Dokumentationszentrum).
In einer Flotte mit Hunderttausenden oder Millionen von Prozessoren kann es regelmäßig zu Ausfällen kommen. Diese Mängel so schnell wie möglich zu finden, ist der Schlüssel zur Minimierung der Unterbrechungen des Kundenbetriebs.
Intel ist in der Branche führend, indem es mehrere Tools und eine Roadmap mit Funktionen bereitstellt, um Prozessoren auf ihren korrekten Betrieb zu testen. Intel® In-Field Scan erweitert diese Testfunktionen, um das Flottenmanagement durch Systemadministratoren zu verbessern.
Intel bietet auch die Intel® Data Center Diagnostic Tool (Intel® DCDiag) an. Intel® DCDiag ist eine Reihe von Tests, die den Großteil der SoC-Funktionalität methodisch überprüfen, einschließlich der Funktionalität jedes einzelnen Mikroprozessorkerns. Durch die Überprüfung, dass jede DCDIAG-Berechnung korrekt ist, und nicht nur durch die Bestätigung, dass der Test ordnungsgemäß ausgeführt wurde, ist DCDIAG in der Lage, viele Arten von Fehlern zu erkennen, einschließlich solcher, die sich als stille Datenfehler manifestieren. Weitere Informationen zu Intel® DCDiag finden Sie unter diesem Link.
Intel® In-Field Scan und Intel® DCDiag sind komplementäre Testwerkzeuge. Intel® In-Field-Scan ist minimal intrusiv und darauf ausgelegt, schnell einen Kern zu testen, während alle anderen Kerne im Knoten weiterhin Kunden-Workloads ausführen. Intel® DCDiag ist eine umfassende Prozessortestsuite und ist am effektivsten, wenn der gesamte Verarbeitungsknoten für Tests reserviert ist. Da die Tools unterschiedliche Testinhalte ausführen, hat Intel festgestellt, dass jedes Tool unterschiedliche Fehler in den getesteten Prozessoren identifiziert.
Anmerkung: Nicht alle SKUs der Intel® Xeon® Prozessoren der 5. Generation unterstützen Intel® In-Field-Scans.